STED超分辨顯微鏡

作者: 時間:2019-01-08

  光學超分辨顯微術的成像分辨率超越了光學衍射限制,其成像分辨率遠高于傳統的光學顯微鏡,是近年來的研究熱點,出現了多種類型。受激輻射損耗(Stimulated Emission Depletion,STED)顯微術是首先提出也是直接克服光學衍射極限的遠場光學顯微術,其建立在激光共聚焦顯微成像基礎上,相對于其它類型的超分辨顯微術,成像速度相對較快,能夠對活細胞進行成像,在生物醫學研究中可以探測更精細的結構。

    STED超分辨成像技術建立在共聚焦顯微成像技術基礎上。下圖是典型STED系統構成原理,一束激發光(綠色所示)通過物鏡在焦平面處形成近似艾利分布的點擴散函數(截面1所示,該點擴散函數受衍射限制,如果直接用于成像就是典型的共聚焦成像),另外一束損耗光(STED,紅色所示)通過相位板后再聚焦形成中空的圓環形點擴散函數(截面2所示)。兩種點擴散函數空間重疊,使得有效激發區域被大大縮小(截面3所示)。有效熒光激發區域產生的熒光被探測器記錄,在控制系統的控制下,通過逐點、逐層掃描,經過圖像處理后得到樣品的三維熒光圖像??梢钥闯?,除了系統中增加了一路損耗光以外,STED的構成與共聚焦顯微成像完全一致,包括信號的探測和處理,以及三維掃描的方式也相同,因此可以以共聚焦顯微成像系統為平臺,研發STED顯微鏡。

1 STED系統構成原理

  中科院蘇州醫工所推出分辨率達50nmSTED超分辨顯微鏡樣機,采用超連續譜皮秒脈沖光源,分出兩路光,一路作為激發光(488nm),另一路作為損耗光(592nm);在損耗光光路中設置一個0-2π的渦旋相位板在物鏡焦點處形成一個中央光強為零的面包圈形的損耗光斑;激發光在物鏡焦點處形成一個高斯分布的激發光斑;采用單光子計數器進行熒光探測。激發光波長和損耗光波長可根據需要進行定制。目前已發表論文8篇,其中SCI收錄4篇,EI收錄3篇;已申請專利17項,其中發明專利13項,實用新型專利4項。

醫工所STED顯微鏡樣機

STED顯微鏡控制軟件界面

共聚焦圖像 STED圖像

直徑48nm熒光小球

共聚焦圖像 STED圖像

細胞骨架

附件下載:
亚洲日韩精品无码麻豆_亚洲日韩精品欧美蜜芽_亚洲日韩精品蜜芽TⅤ_亚洲日韩精品第一页
<蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>|